物位测量技术发展
　　物位测量技术经历了结构上从机械式仪表向电子式仪表发展，以及工作方式上由接触式向非接触式发展的过程。 
　　上图中，前4种测量技术都属于接触式测量方法，第5种辐射法为非接触测量方法。其中，直视法是指眼睛可以直接观测到介质容量变化的一种方法；测力法是指通过被测介质对指示器或传感器等目标施加外力来测量的方法；压力法是由被测介质施加在测量探头而产生压力进行测量的方法；电特性法是利用被测介质的电特性进行测量的方法；辐射法采用电磁频谱原理技术。
　　前4种方法需要测量仪器的全部或一部分部件与被测介质(固体或液体物料)相接触才能达到测量的目的。从长期来看，物料粘附物及沉积物会对这些机械部件产生附着，当物料为腐蚀性或易产生水锈的介质时，对仪器精度的影响将更加严重。在工业生产中，对物位仪表最基本的要求是高精度和高可靠性，这就需要有应用范围更大、精度更高的技术出现。
　　TOF测量原理
　　近几年来，发展较快的是行程时间或传播时间ToF ( time of flight )测量原理，又称回波测距原理。它是利用能量波在空间中的传播时间来进行度量的一种方法。能量波在信号源与被测对象之间传递，能量波到达被测对象后被反射并返回到探头上被接收，属于非接触测距。
　　ToF 测量技术可以利用的能量波有机械波(声或超声波)、电磁波(通常为K波段或C波段的微波)和激光(通常为红外波段的激光)，相应的物位计称为超声波物位计、微波物位计和激光物位计。